Machine vision and three-dimensional imaging systems for inspection and metrology II - 29-30 October 2001, Newton, USA
- Författare
- (Kevin G. Harding, John W.V. Miller, chairs/editors)
- Språk
- Engelska

Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
---|---|---|---|---|
Cop. 2002 | USA | 236 sidor. | 0-8194-4295-X |